本試驗程序的目的是在盡可能合理的經(jīng)費和時間內(nèi)確定組件的電性能和熱性能，表明組件能夠在規(guī)定的氣候條件下長期使用。通過此實驗的組件的實際使用壽命期望值將取決于組件的設(shè)計以及它們使用的環(huán)境和條件。

      溫度系數(shù)測量的目的：

      從組件試驗中測量其電流溫度系數(shù)α和電壓溫度系數(shù)β。如此測定的溫度系數(shù)，僅在測試中所用的輻照度下有效；對于線性組件，在此輻照度±30%內(nèi)是有效的。GB/T 6495.4-1996 規(guī)定了從具有代表性一批中的單體電池測量這些系數(shù)，本方法是對這一標準的的補充。薄膜電池組件的溫度系數(shù)依賴于輻照及組件所經(jīng)歷的熱處理過程。當(dāng)涉及溫度系數(shù)時，熱試驗時的條件及輻照結(jié)果等過程情況均應(yīng)標明。

      溫度系數(shù)測量程序：

      1、在室溫和需要的輻照度下，用GB/T 6495.1-1996 的方法測量組件的短路電流。

      2、將組件安裝在試驗室中，在試驗室外但仍在模擬器光照中安裝一適當(dāng)?shù)妮椪斩缺O(jiān)測儀。連接好儀器。

      3、關(guān)閉試驗室，設(shè)定好輻照度，使試驗組件的短路電流達步驟a的值，并用輻照度監(jiān)測儀使其在整個過程維持同一水平。

      4、將組件加熱至所考核的最高溫度，關(guān)掉加熱器，讓其平穩(wěn)地冷卻。

      5、在組件冷卻過程中，在至少30℃所考核的溫度范圍內(nèi)，每隔5℃測量一次短路電流和開路電壓。

      本方法的原理是在相同的輻照度、環(huán)境溫度和風(fēng)速條件下比較標準參考平板和試驗組件的溫度。在標準參考環(huán)境下參考平板的穩(wěn)態(tài)溫度由10.5.3所描述的基本方法測定。

      先把試驗組件和參考平板的溫度差修正到標準參考環(huán)境，再將此值加上標準參考環(huán)境下參考平板的平均穩(wěn)態(tài)溫度，即得到試驗組件的標稱工作溫度。實驗已證明，溫度差對輻照度的漲落、環(huán)境溫度和風(fēng)速的小的變化不敏感。